实验室研究与探索
實驗室研究與探索
실험실연구여탐색
LAABORATORY REESEARCH AND EXPLORATION
2014年
7期
19-22,52
,共5页
原子力显微镜%轻敲模式%共振频率%弹性系数
原子力顯微鏡%輕敲模式%共振頻率%彈性繫數
원자력현미경%경고모식%공진빈솔%탄성계수
atomic force microscope(AFM)%tapping mode%resonant frequency%elastic coefficient
基于针尖和样品之间的各种相互作用力,原子力显微镜(AFM)可用于样品表面形貌、摩擦力等各种物理特性的研究,它是纳米科技研究中一个重要工具.影响AFM测量图像质量的因素很多,如振幅参数、积分增益I、比例增益P、衰减增益和扫描速度等,而探针同样是提高样品表面形貌像成像质量的关键.通过采用控制变量法,并以均方根粗糙度Rq作为评判标准,用不同参数的探针测量同一样品.实验结果表明,探针的共振频率f、弹性系数k、曲率半径Rh等对测量样品粗糙度均有较大影响,可选择合适的探针,提高成像质量.同时,针对仪器使用中出现的一些常见现象及故障,作出了解释和解答.
基于針尖和樣品之間的各種相互作用力,原子力顯微鏡(AFM)可用于樣品錶麵形貌、摩抆力等各種物理特性的研究,它是納米科技研究中一箇重要工具.影響AFM測量圖像質量的因素很多,如振幅參數、積分增益I、比例增益P、衰減增益和掃描速度等,而探針同樣是提高樣品錶麵形貌像成像質量的關鍵.通過採用控製變量法,併以均方根粗糙度Rq作為評判標準,用不同參數的探針測量同一樣品.實驗結果錶明,探針的共振頻率f、彈性繫數k、麯率半徑Rh等對測量樣品粗糙度均有較大影響,可選擇閤適的探針,提高成像質量.同時,針對儀器使用中齣現的一些常見現象及故障,作齣瞭解釋和解答.
기우침첨화양품지간적각충상호작용력,원자력현미경(AFM)가용우양품표면형모、마찰력등각충물리특성적연구,타시납미과기연구중일개중요공구.영향AFM측량도상질량적인소흔다,여진폭삼수、적분증익I、비례증익P、쇠감증익화소묘속도등,이탐침동양시제고양품표면형모상성상질량적관건.통과채용공제변량법,병이균방근조조도Rq작위평판표준,용불동삼수적탐침측량동일양품.실험결과표명,탐침적공진빈솔f、탄성계수k、곡솔반경Rh등대측량양품조조도균유교대영향,가선택합괄적탐침,제고성상질량.동시,침대의기사용중출현적일사상견현상급고장,작출료해석화해답.
