硅谷
硅穀
규곡
SILICON VALLEY
2014年
16期
76-76,52
,共2页
寿命试验%试验程序%试验条件
壽命試驗%試驗程序%試驗條件
수명시험%시험정서%시험조건
半导体分立器件寿命试验是检测产品质量的重要方法，要严格按照相关要求，正确操作试验设备，试验程序，严格执行试验过程的中间测试和终点测试，试验后及时分析试验结果，从而保证生产出高质量的产品。
半導體分立器件壽命試驗是檢測產品質量的重要方法，要嚴格按照相關要求，正確操作試驗設備，試驗程序，嚴格執行試驗過程的中間測試和終點測試，試驗後及時分析試驗結果，從而保證生產齣高質量的產品。
반도체분립기건수명시험시검측산품질량적중요방법，요엄격안조상관요구，정학조작시험설비，시험정서，엄격집행시험과정적중간측시화종점측시，시험후급시분석시험결과，종이보증생산출고질량적산품。
