计算机研究与发展
計算機研究與髮展
계산궤연구여발전
JOURNAL OF COMPUTER RESEARCH AND DEVELOPMENT
2014年
9期
2022-2029
,共8页
刘铁桥%邝继顺%蔡烁%尤志强
劉鐵橋%鄺繼順%蔡爍%尤誌彊
류철교%광계순%채삭%우지강
内建自测试%test-per-clock%测试位流%测试生成%测试开销
內建自測試%test-per-clock%測試位流%測試生成%測試開銷
내건자측시%test-per-clock%측시위류%측시생성%측시개소
built-in self test%test-per-clock%test bit stream%test generation%test cost
集成电路测试方案的关键在于测试向量产生器的设计.传统的测试方法在测试向量生成、测试应用的过程中,没有充分利用测试数据位流来构建测试向量,从而造成了测试时间和存储开销的增加.为了减少测试成本,提出了一种基于test-per-clock模式的内建自测试方法.通过对线性移位测试结构的分析,提出了一种递进式的反复测试生成方法:顺序求解输入位流,逆向精简,多次求解以获得更优值,最终将测试集以较小的代价嵌入到test-per-clock位流中.在测试应用时,只需存储求解后的最小输入流,通过控制线性移位的首位从而生成所需的测试集.实验结果表明,在达到故障覆盖率要求的前提下,能显著地减少测试应用时间和存储面积开销.
集成電路測試方案的關鍵在于測試嚮量產生器的設計.傳統的測試方法在測試嚮量生成、測試應用的過程中,沒有充分利用測試數據位流來構建測試嚮量,從而造成瞭測試時間和存儲開銷的增加.為瞭減少測試成本,提齣瞭一種基于test-per-clock模式的內建自測試方法.通過對線性移位測試結構的分析,提齣瞭一種遞進式的反複測試生成方法:順序求解輸入位流,逆嚮精簡,多次求解以穫得更優值,最終將測試集以較小的代價嵌入到test-per-clock位流中.在測試應用時,隻需存儲求解後的最小輸入流,通過控製線性移位的首位從而生成所需的測試集.實驗結果錶明,在達到故障覆蓋率要求的前提下,能顯著地減少測試應用時間和存儲麵積開銷.
집성전로측시방안적관건재우측시향양산생기적설계.전통적측시방법재측시향량생성、측시응용적과정중,몰유충분이용측시수거위류래구건측시향량,종이조성료측시시간화존저개소적증가.위료감소측시성본,제출료일충기우test-per-clock모식적내건자측시방법.통과대선성이위측시결구적분석,제출료일충체진식적반복측시생성방법:순서구해수입위류,역향정간,다차구해이획득경우치,최종장측시집이교소적대개감입도test-per-clock위류중.재측시응용시,지수존저구해후적최소수입류,통과공제선성이위적수위종이생성소수적측시집.실험결과표명,재체도고장복개솔요구적전제하,능현저지감소측시응용시간화존저면적개소.
