电子工业专用设备
電子工業專用設備
전자공업전용설비
EQUIPMENT FOR ELECTRONIC PRODUCTS MANUFACTURING
2014年
10期
41-44
,共4页
广度优先搜索%晶粒%扫描
廣度優先搜索%晶粒%掃描
엄도우선수색%정립%소묘
B readth-firstSearch%W afer%Scan
介绍了晶粒扫描技术和广度优先搜索算法，研究了使用广度优先搜索算法进行晶粒扫描的应用条件和编程实现方法。该方法需要CCD 系统一次识别9颗晶粒，扫描过程中不走空位，有助于提高设备的效率。
介紹瞭晶粒掃描技術和廣度優先搜索算法，研究瞭使用廣度優先搜索算法進行晶粒掃描的應用條件和編程實現方法。該方法需要CCD 繫統一次識彆9顆晶粒，掃描過程中不走空位，有助于提高設備的效率。
개소료정립소묘기술화엄도우선수색산법，연구료사용엄도우선수색산법진행정립소묘적응용조건화편정실현방법。해방법수요CCD 계통일차식별9과정립，소묘과정중불주공위，유조우제고설비적효솔。
It introduces wafer scan and breadth-first search, and researches conditions and program method of wafer scan based on breadth-first search. T his wafer scan method needs nine wafers identification of CCD ,and does notreach to em pty position,so itcan im prove efficiency ofdevice.
