信息技术
信息技術
신식기술
INFORMATION TECHNOLOGY
2014年
9期
47-49
,共3页
FPGA%测试技术%分治法%一维阵列法
FPGA%測試技術%分治法%一維陣列法
FPGA%측시기술%분치법%일유진렬법
FPGA%measuring and testing technique%divide and conquer%one-dimensional array
以Xilinx公司的XC6VLX550T系列FPGA芯片为研究对象,结合各种故障模型等测试技术,把“分治法”和“一维阵列法”相结合起来作为基本测试思路,并建立V93000测试平台的测试程序开发流程,探索出一种通用的FPGA测试方法.
以Xilinx公司的XC6VLX550T繫列FPGA芯片為研究對象,結閤各種故障模型等測試技術,把“分治法”和“一維陣列法”相結閤起來作為基本測試思路,併建立V93000測試平檯的測試程序開髮流程,探索齣一種通用的FPGA測試方法.
이Xilinx공사적XC6VLX550T계렬FPGA심편위연구대상,결합각충고장모형등측시기술,파“분치법”화“일유진렬법”상결합기래작위기본측시사로,병건립V93000측시평태적측시정서개발류정,탐색출일충통용적FPGA측시방법.
