中国集成电路
中國集成電路
중국집성전로
CHINA INTEGRATED CIRCUIT
2014年
10期
73-76
,共4页
可测性设计%扫描链测试%压缩可测性测试%测试向量
可測性設計%掃描鏈測試%壓縮可測性測試%測試嚮量
가측성설계%소묘련측시%압축가측성측시%측시향량
本文针对固定管脚芯片可测性设计中测试向量庞大和测试时间过长问题,提出了一种有效的压缩可测性设计,改进了传统并行扫描测试设计.该设计方法在SMIC 0.18 μm工艺下一款电力载波通信芯片设计中验证,仿真结果表明压缩扫描可测性设计能有效减少测试向量数目,从而减小芯片测试时间.
本文針對固定管腳芯片可測性設計中測試嚮量龐大和測試時間過長問題,提齣瞭一種有效的壓縮可測性設計,改進瞭傳統併行掃描測試設計.該設計方法在SMIC 0.18 μm工藝下一款電力載波通信芯片設計中驗證,倣真結果錶明壓縮掃描可測性設計能有效減少測試嚮量數目,從而減小芯片測試時間.
본문침대고정관각심편가측성설계중측시향량방대화측시시간과장문제,제출료일충유효적압축가측성설계,개진료전통병행소묘측시설계.해설계방법재SMIC 0.18 μm공예하일관전력재파통신심편설계중험증,방진결과표명압축소묘가측성설계능유효감소측시향량수목,종이감소심편측시시간.
