电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2012年
7期
27-30
,共4页
CMDSPF2812%单粒子%JBU61580%1553B
CMDSPF2812%單粒子%JBU61580%1553B
CMDSPF2812%단입자%JBU61580%1553B
空间辐射会导致电子设备中的半导体器件发生单粒子效应(SEE),使半导体器件工作异常,进而导致设备发生故障,因此研究器件的单粒子效应在航天领域极其重要.JBU61580是中科芯(58所)公司,研制的一款1553B总线终端接口芯片.文中介绍了基于CMDSPF2812芯片进行的JBU61580芯片单粒子效应监测平台的研究与设计.
空間輻射會導緻電子設備中的半導體器件髮生單粒子效應(SEE),使半導體器件工作異常,進而導緻設備髮生故障,因此研究器件的單粒子效應在航天領域極其重要.JBU61580是中科芯(58所)公司,研製的一款1553B總線終耑接口芯片.文中介紹瞭基于CMDSPF2812芯片進行的JBU61580芯片單粒子效應鑑測平檯的研究與設計.
공간복사회도치전자설비중적반도체기건발생단입자효응(SEE),사반도체기건공작이상,진이도치설비발생고장,인차연구기건적단입자효응재항천영역겁기중요.JBU61580시중과심(58소)공사,연제적일관1553B총선종단접구심편.문중개소료기우CMDSPF2812심편진행적JBU61580심편단입자효응감측평태적연구여설계.
