安庆师范学院学报(自然科学版)
安慶師範學院學報(自然科學版)
안경사범학원학보(자연과학판)
JOURNAL OF ANQING TEACHERS COLLEGE(NATURAL SCIENCE)
2013年
2期
52-56
,共5页
测试数据压缩%编码%内建自测试%测试集紧缩
測試數據壓縮%編碼%內建自測試%測試集緊縮
측시수거압축%편마%내건자측시%측시집긴축
test data compression%coding%built -in self -test%test set compaction
通过减少测试数据来减少测试成本是集成电路测试领域的热点之一.文章综述了测试数据减少技术,分析了每一种技术的优缺点,指出了该技术的发展需求和方向.
通過減少測試數據來減少測試成本是集成電路測試領域的熱點之一.文章綜述瞭測試數據減少技術,分析瞭每一種技術的優缺點,指齣瞭該技術的髮展需求和方嚮.
통과감소측시수거래감소측시성본시집성전로측시영역적열점지일.문장종술료측시수거감소기술,분석료매일충기술적우결점,지출료해기술적발전수구화방향.
@@@@It is a very topic to reduce the test cost by reducing the test data in integrated circuit testing.Firstly test reduction techniques are categorized,and the advantages of each technic are analyzed.Then,its demand and the trend of deve lopment are pointed out.
