强激光与粒子束
彊激光與粒子束
강격광여입자속
HIGH POWER LASER AND PARTICLEBEAMS
2014年
12期
105-108
,共4页
韦敏习%侯立飞%杨国洪%刘慎业
韋敏習%侯立飛%楊國洪%劉慎業
위민습%후립비%양국홍%류신업
软X射线%在线诊断%探测器%图像
軟X射線%在線診斷%探測器%圖像
연X사선%재선진단%탐측기%도상
soft X-ray%on-line diagnosis%detector%imaging
通过将闪烁体光纤面板与CMOS图像传感器耦合,研制了在线诊断X射线图像的CMOS探测系统.通过XOP软件计算,确定了响应能区为1～10 keV的CsI闪烁体厚度为30μm.在微点X射线源平台上,基于标准的Typ 18-d型分辨率板对CMOS探测系统的空间分辨能力进行了实验测试,结果为60 μm.在神光Ⅲ原型激光装置上,利用该套CMOS探测系统在流体力学不稳定性与混合实验中对钛背光源的光谱进行了诊断,获得了清晰的类氢和类氦光谱图像.数据分析显示,实测的谱分辨为442,与理论分析符合较好.CMOS探测系统小巧轻便,性价比高,适合各大高校与科研院所用于在线诊断软X射线图像.
通過將閃爍體光纖麵闆與CMOS圖像傳感器耦閤,研製瞭在線診斷X射線圖像的CMOS探測繫統.通過XOP軟件計算,確定瞭響應能區為1～10 keV的CsI閃爍體厚度為30μm.在微點X射線源平檯上,基于標準的Typ 18-d型分辨率闆對CMOS探測繫統的空間分辨能力進行瞭實驗測試,結果為60 μm.在神光Ⅲ原型激光裝置上,利用該套CMOS探測繫統在流體力學不穩定性與混閤實驗中對鈦揹光源的光譜進行瞭診斷,穫得瞭清晰的類氫和類氦光譜圖像.數據分析顯示,實測的譜分辨為442,與理論分析符閤較好.CMOS探測繫統小巧輕便,性價比高,適閤各大高校與科研院所用于在線診斷軟X射線圖像.
통과장섬삭체광섬면판여CMOS도상전감기우합,연제료재선진단X사선도상적CMOS탐측계통.통과XOP연건계산,학정료향응능구위1～10 keV적CsI섬삭체후도위30μm.재미점X사선원평태상,기우표준적Typ 18-d형분변솔판대CMOS탐측계통적공간분변능력진행료실험측시,결과위60 μm.재신광Ⅲ원형격광장치상,이용해투CMOS탐측계통재류체역학불은정성여혼합실험중대태배광원적광보진행료진단,획득료청석적류경화류양광보도상.수거분석현시,실측적보분변위442,여이론분석부합교호.CMOS탐측계통소교경편,성개비고,괄합각대고교여과연원소용우재선진단연X사선도상.
