电子制作
電子製作
전자제작
ELECTRONICS DIY
2014年
23期
30-31
,共2页
阳辉%张东%哈文慧%孙旭朋%高旭东%白桦
暘輝%張東%哈文慧%孫旭朋%高旭東%白樺
양휘%장동%합문혜%손욱붕%고욱동%백화
贮存寿命%集成电路%参数退化%试验评价
貯存壽命%集成電路%參數退化%試驗評價
저존수명%집성전로%삼수퇴화%시험평개
本文介绍了基于参数退化的寿命试验的理论与方法。通过开展SRAM贮存寿命试验，并对试验数据处理与分析，验证了基于参数退化寿命试验方法与程序，试验系统以及试验数据分析方法的有效性。在有限的试验时间内，经过数据分析建立样品敏感参数退化模型，对样品的贮存寿命进行预计。
本文介紹瞭基于參數退化的壽命試驗的理論與方法。通過開展SRAM貯存壽命試驗，併對試驗數據處理與分析，驗證瞭基于參數退化壽命試驗方法與程序，試驗繫統以及試驗數據分析方法的有效性。在有限的試驗時間內，經過數據分析建立樣品敏感參數退化模型，對樣品的貯存壽命進行預計。
본문개소료기우삼수퇴화적수명시험적이론여방법。통과개전SRAM저존수명시험，병대시험수거처리여분석，험증료기우삼수퇴화수명시험방법여정서，시험계통이급시험수거분석방법적유효성。재유한적시험시간내，경과수거분석건립양품민감삼수퇴화모형，대양품적저존수명진행예계。
