分析仪器
分析儀器
분석의기
ANALYTICAL INSTRUMENTATION
2014年
6期
105-107
,共3页
陈木子%郭军%唐明华%潘越
陳木子%郭軍%唐明華%潘越
진목자%곽군%당명화%반월
FEI-TECNAI-G20%HT7700%透射电子显微镜%结构%性能%维护
FEI-TECNAI-G20%HT7700%透射電子顯微鏡%結構%性能%維護
FEI-TECNAI-G20%HT7700%투사전자현미경%결구%성능%유호
通过电镜的硬件结构和性能两方面对FEI-TECNAI-G20型六硼化镧灯丝透射电子显微镜和日立HT7700型钨灯丝透射电子显微镜进行比较。硬件结构上FEI-TECNAI-G20和 HT7700在光源,真空系统和成像系统上都有较大的区别,以至于在性能上都有着各自的优缺点;在仪器维护方面也有着异同。
通過電鏡的硬件結構和性能兩方麵對FEI-TECNAI-G20型六硼化鑭燈絲透射電子顯微鏡和日立HT7700型鎢燈絲透射電子顯微鏡進行比較。硬件結構上FEI-TECNAI-G20和 HT7700在光源,真空繫統和成像繫統上都有較大的區彆,以至于在性能上都有著各自的優缺點;在儀器維護方麵也有著異同。
통과전경적경건결구화성능량방면대FEI-TECNAI-G20형륙붕화란등사투사전자현미경화일립HT7700형오등사투사전자현미경진행비교。경건결구상FEI-TECNAI-G20화 HT7700재광원,진공계통화성상계통상도유교대적구별,이지우재성능상도유착각자적우결점;재의기유호방면야유착이동。
This paper mainly describes the differences in structure and the comparison of performance between FEI‐TECNAI‐G20 LaB6 transmission electron microscope and HITACHI‐HT7700 tungsten filament transmission electron microscope . They have differences in light source ,vacuum system ,imaging system ,so the performance and the maintenance also have some differences .