电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2015年
2期
16-18
,共3页
张凯虹%陈真%王建超
張凱虹%陳真%王建超
장개홍%진진%왕건초
数字模拟转换器%动态参数测试%直接数字频率合成
數字模擬轉換器%動態參數測試%直接數字頻率閤成
수자모의전환기%동태삼수측시%직접수자빈솔합성
digital-to-analog converter (DAC)%dynamic parameters test%direct digital synthesis (DDS)
对基于ATE和频谱仪的内嵌于DDS的高速DAC的动态参数进行测试实验,通过编程由ATE提供数字正弦波和时钟信号;通过频谱仪对DAC输出模拟信号采样,并通过VBT编程得到DAC的动态参数。最后将结果返回到ATE的Excel环境下与其他测试参数结果一起输出。整个流程由ATE主机控制,避免了芯片的二次测试,缩减了测试成本,实验证明在实际应用中该方法有很好的效果。
對基于ATE和頻譜儀的內嵌于DDS的高速DAC的動態參數進行測試實驗,通過編程由ATE提供數字正絃波和時鐘信號;通過頻譜儀對DAC輸齣模擬信號採樣,併通過VBT編程得到DAC的動態參數。最後將結果返迴到ATE的Excel環境下與其他測試參數結果一起輸齣。整箇流程由ATE主機控製,避免瞭芯片的二次測試,縮減瞭測試成本,實驗證明在實際應用中該方法有很好的效果。
대기우ATE화빈보의적내감우DDS적고속DAC적동태삼수진행측시실험,통과편정유ATE제공수자정현파화시종신호;통과빈보의대DAC수출모의신호채양,병통과VBT편정득도DAC적동태삼수。최후장결과반회도ATE적Excel배경하여기타측시삼수결과일기수출。정개류정유ATE주궤공제,피면료심편적이차측시,축감료측시성본,실험증명재실제응용중해방법유흔호적효과。
Using ATE and spectrometer, experiments are conducted to test dynamic parameters of high-speed DAC embedded in DDS. The ATE provides clock and digital sine waves with frequency for the DAC by programming. The spectrometer samples output analog singals of the DAC and obtains dynamic parameters by VBT program. At last the result will return to ATE and print with other parameters in Excel. The whole process is controlled by the ATE host. To avoid the chip test twice, reduce the test cost. The experiments demonstrate that the method can achieve good result in actual application.