强激光与粒子束
彊激光與粒子束
강격광여입자속
HIGH POWER LASER AND PARTICLEBEAMS
2015年
2期
264-268
,共5页
表面电荷密度%固液界面%静电力力%探针原子力显微镜
錶麵電荷密度%固液界麵%靜電力力%探針原子力顯微鏡
표면전하밀도%고액계면%정전력력%탐침원자력현미경
surface charge density%solid-liquid interfaces%silica%colloidal probe AFM
固液界面的表面电荷会影响微纳流体系统的流体阻力,因此如何测量固液界面的表面电荷密度以及分析表面电荷的产生机理对于研究表面电荷对流体阻力的影响具有较大的意义.提出了一种基于接触式AFM的固液界面表面电荷密度测量方法.基于该方法测量了浸在去离子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中的高硼硅玻璃和二氧化硅样本的表面电荷密度,并研究了溶液pH值对表面电荷的影响.研究结果表明高硼硅玻璃和二氧化硅由于表面硅烷基的电离带负电.溶液pH值和离子浓度的增加都会增加浸在去离子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中高硼硅玻璃和二氧化硅的表面电荷密度的绝对值.
固液界麵的錶麵電荷會影響微納流體繫統的流體阻力,因此如何測量固液界麵的錶麵電荷密度以及分析錶麵電荷的產生機理對于研究錶麵電荷對流體阻力的影響具有較大的意義.提齣瞭一種基于接觸式AFM的固液界麵錶麵電荷密度測量方法.基于該方法測量瞭浸在去離子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中的高硼硅玻璃和二氧化硅樣本的錶麵電荷密度,併研究瞭溶液pH值對錶麵電荷的影響.研究結果錶明高硼硅玻璃和二氧化硅由于錶麵硅烷基的電離帶負電.溶液pH值和離子濃度的增加都會增加浸在去離子水和0.01 mol/L的NaCl溶液中高硼硅玻璃和二氧化硅的錶麵電荷密度的絕對值.
고액계면적표면전하회영향미납류체계통적류체조력,인차여하측량고액계면적표면전하밀도이급분석표면전하적산생궤리대우연구표면전하대류체조력적영향구유교대적의의.제출료일충기우접촉식AFM적고액계면표면전하밀도측량방법.기우해방법측량료침재거리자수화0.01 mol/L적NaCl용액중적고붕규파리화이양화규양본적표면전하밀도,병연구료용액pH치대표면전하적영향.연구결과표명고붕규파리화이양화규유우표면규완기적전리대부전.용액pH치화리자농도적증가도회증가침재거리자수화0.01 mol/L적NaCl용액중고붕규파리화이양화규적표면전하밀도적절대치.
