计算机与数字工程
計算機與數字工程
계산궤여수자공정
COMPUTER & DIGITAL ENGINEERING
2015年
1期
113-116,136
,共5页
FPGA 测试%查找表%逻辑单元%测试模型
FPGA 測試%查找錶%邏輯單元%測試模型
FPGA 측시%사조표%라집단원%측시모형
FPGA test%look up table%logical unit%test model
目前常用的 FPGA 器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法，其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了 FPGA 器件的结构和工作原理的基础上，提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案，对逻辑单元、嵌入式阵列和 I／O 双向管脚的覆盖率可达100％，且功能简单、结构清晰，易于模拟测试向量和故障定位。
目前常用的 FPGA 器件測試方法為基于實際應用的編程測試方法，其關鍵在于選擇什麽樣的測試模型。論文在研究瞭 FPGA 器件的結構和工作原理的基礎上，提齣一種可行性彊、覆蓋率高的測試模型建立方案，對邏輯單元、嵌入式陣列和 I／O 雙嚮管腳的覆蓋率可達100％，且功能簡單、結構清晰，易于模擬測試嚮量和故障定位。
목전상용적 FPGA 기건측시방법위기우실제응용적편정측시방법，기관건재우선택십요양적측시모형。논문재연구료 FPGA 기건적결구화공작원리적기출상，제출일충가행성강、복개솔고적측시모형건립방안，대라집단원、감입식진렬화 I／O 쌍향관각적복개솔가체100％，차공능간단、결구청석，역우모의측시향량화고장정위。
At present commonly used FPGA device detection method is based on the practical application of program‐ming test method ,the key is to choose the type of test model .In this paper ,after studying the structure and working princi‐ple of FPGA device ,testing model with strong feasibility ,high coverage is established .The coverage rate of a logical unit , embedded arrays and bidirectional I/O pins can reach 100% ,and function is simple ,the structure is clear ,easy to simulate test vector and fault location .
