计算机与数字工程
計算機與數字工程
계산궤여수자공정
COMPUTER & DIGITAL ENGINEERING
2015年
1期
103-105,141
,共4页
单片机%测试图形向量%测试技术%“学习法”
單片機%測試圖形嚮量%測試技術%“學習法”
단편궤%측시도형향량%측시기술%“학습법”
MCU%test pattern%test technology%“learning method”
单片机是系统设计中的关键器件。由于集成度高，功能复杂，如何简单全面的实现各部分功能测试是测试中的难点。论文以 AT89C55单片机为例，针对单片机的特点和应用，提出设计搭建最小系统方法，实现“学习法”获取测试图形向量，从而实现单片机的测试。
單片機是繫統設計中的關鍵器件。由于集成度高，功能複雜，如何簡單全麵的實現各部分功能測試是測試中的難點。論文以 AT89C55單片機為例，針對單片機的特點和應用，提齣設計搭建最小繫統方法，實現“學習法”穫取測試圖形嚮量，從而實現單片機的測試。
단편궤시계통설계중적관건기건。유우집성도고，공능복잡，여하간단전면적실현각부분공능측시시측시중적난점。논문이 AT89C55단편궤위례，침대단편궤적특점화응용，제출설계탑건최소계통방법，실현“학습법”획취측시도형향량，종이실현단편궤적측시。
MCU is a key device in system design .How to achieve all parts of its function test simply and comprehen‐sively is the difficulty in the test ,because of its high integration and complex functional .Taking AT89C55 MCU for exam‐ple ,this article introduces the significant features and application ,puts forward a design of MCU minimum testing system , obtains the test pattern by “learning method” and achieves the test of MCU in detail .
