河南科技
河南科技
하남과기
HENANKEJI
2015年
2期
11-12
,共2页
集成电路%加固技术%单粒子%总剂量
集成電路%加固技術%單粒子%總劑量
집성전로%가고기술%단입자%총제량
随着集成电路特征尺寸的降低,由宇宙射线引起的单粒子效应SEE(single event effect)愈发严重,这是以后设计高可靠集成电路的主要挑战之一.在分析了宇宙射线对集成电路电参数的影响机制和产生的后果之后,本文从工艺、版图、电路结构和系统四个层次考虑,给出了一些抗单粒子的加固技术.最后分析了可靠性设计带来的各种问题,并提出了以后的工作方向.
隨著集成電路特徵呎吋的降低,由宇宙射線引起的單粒子效應SEE(single event effect)愈髮嚴重,這是以後設計高可靠集成電路的主要挑戰之一.在分析瞭宇宙射線對集成電路電參數的影響機製和產生的後果之後,本文從工藝、版圖、電路結構和繫統四箇層次攷慮,給齣瞭一些抗單粒子的加固技術.最後分析瞭可靠性設計帶來的各種問題,併提齣瞭以後的工作方嚮.
수착집성전로특정척촌적강저,유우주사선인기적단입자효응SEE(single event effect)유발엄중,저시이후설계고가고집성전로적주요도전지일.재분석료우주사선대집성전로전삼수적영향궤제화산생적후과지후,본문종공예、판도、전로결구화계통사개층차고필,급출료일사항단입자적가고기술.최후분석료가고성설계대래적각충문제,병제출료이후적공작방향.
