太赫兹科学与电子信息学报
太赫玆科學與電子信息學報
태혁자과학여전자신식학보
Information and Electronic Engineering
2015年
2期
352-357
,共6页
静态随机存储器%现场可编程门阵列%嵌入式%可靠性%高速电路
靜態隨機存儲器%現場可編程門陣列%嵌入式%可靠性%高速電路
정태수궤존저기%현장가편정문진렬%감입식%가고성%고속전로
Static Random Access Memory%Field Programmable Gate Array%embedded system%reliability%high-speed circuits
随着航天技术的发展,嵌入式系统设计在航天上得到了越来越广泛的应用。静态随机存储器(SRAM)作为使用最为广泛的存储器之一,由于其高速低功耗的优良特性,在航天领域被广泛使用。目前,其功能测试还依赖于通过使用 VHDL/Verilog 编写测试端口来完成,不仅开发效率低,而且很难保证测试结果的可靠性。本文提出了一种通过嵌入式开发的方式完成对静态随机存储器(SRAM)功能测试的方法,测试方法基于可复用的 IP技术,大大提高了测试数据传输效率。通过这种方法,SRAM测试系统的二次开发基于应用层而不是底层逻辑层,大大简化了系统设计。这样不仅提高了测试效率,而且具有较好的可靠性、可配置性以及可移植性,大大降低了系统的研发成本。测试系统的可行性和有效性已经得到了实验验证。
隨著航天技術的髮展,嵌入式繫統設計在航天上得到瞭越來越廣汎的應用。靜態隨機存儲器(SRAM)作為使用最為廣汎的存儲器之一,由于其高速低功耗的優良特性,在航天領域被廣汎使用。目前,其功能測試還依賴于通過使用 VHDL/Verilog 編寫測試耑口來完成,不僅開髮效率低,而且很難保證測試結果的可靠性。本文提齣瞭一種通過嵌入式開髮的方式完成對靜態隨機存儲器(SRAM)功能測試的方法,測試方法基于可複用的 IP技術,大大提高瞭測試數據傳輸效率。通過這種方法,SRAM測試繫統的二次開髮基于應用層而不是底層邏輯層,大大簡化瞭繫統設計。這樣不僅提高瞭測試效率,而且具有較好的可靠性、可配置性以及可移植性,大大降低瞭繫統的研髮成本。測試繫統的可行性和有效性已經得到瞭實驗驗證。
수착항천기술적발전,감입식계통설계재항천상득도료월래월엄범적응용。정태수궤존저기(SRAM)작위사용최위엄범적존저기지일,유우기고속저공모적우량특성,재항천영역피엄범사용。목전,기공능측시환의뢰우통과사용 VHDL/Verilog 편사측시단구래완성,불부개발효솔저,이차흔난보증측시결과적가고성。본문제출료일충통과감입식개발적방식완성대정태수궤존저기(SRAM)공능측시적방법,측시방법기우가복용적 IP기술,대대제고료측시수거전수효솔。통과저충방법,SRAM측시계통적이차개발기우응용층이불시저층라집층,대대간화료계통설계。저양불부제고료측시효솔,이차구유교호적가고성、가배치성이급가이식성,대대강저료계통적연발성본。측시계통적가행성화유효성이경득도료실험험증。
With the development of satellite based remote sensors, embedded systems become more and more popular in space camera electronics. Static Random Access Memory(SRAM) is one kind of the most widely used memories due to its merits of high efficiency and low power dissipation, but testing its function still depends on writing testing modules with hardware description language, which results in low developing efficiency and low reliability. In this paper, an embedded testing method is proposed, which is based on MicroBlaze and its speed increasing function design. Implementation of the test method is based on reusable Intellectual Property(IP) technique and greatly improves data transfer speed. With this method, secondary development of SRAM test system can be made in application layer instead of fundamental logical layer, which simplifies the system design. It is not only more efficient and more reliable, but also easier to transplant, which greatly reduces test design cost. The validity and feasibility of the method have been proved by test results.