冶金分析
冶金分析
야금분석
METALLURGICAL ANALYSIS
2015年
3期
7-12
,共6页
辉光放电光谱法(GDS)%镀锡板%镀层%钝化层%厚度%质量%基板成分%有害元素
輝光放電光譜法(GDS)%鍍錫闆%鍍層%鈍化層%厚度%質量%基闆成分%有害元素
휘광방전광보법(GDS)%도석판%도층%둔화층%후도%질량%기판성분%유해원소
glow discharge spectrometry(GDS)%tinplate%coating%passivation layer%thickness%mass%substrate component%harmful element
利用辉光放电光谱法对镀锡板样品进行逐层剥离,根据样品由表至里的辉光放电积分图谱,分别设定公式积分计算镀锡板镀层厚度及质量、钝化层厚度及质量、基板成分、镀层中有害元素等.采用辉光放电光谱对镀锡板做深度-时间图,可知镀锡层的深度分辨率低于基板铁层.将方法应用于测定镀层质量、钝化层质量、基板成分(碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬和铜)的测定,相对标准偏差分别不大于2.3％(n=10)、3.0％(n=10)、4.3％(n=5),分别将实验方法测定结果与X射线荧光光谱法(XRF)、光度法、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICPAES)进行比对,结果基本一致.采用实验方法对镀锡板镀层中的有害元素进行了测定,可实现镀锡板多个检测项目的同时测定.
利用輝光放電光譜法對鍍錫闆樣品進行逐層剝離,根據樣品由錶至裏的輝光放電積分圖譜,分彆設定公式積分計算鍍錫闆鍍層厚度及質量、鈍化層厚度及質量、基闆成分、鍍層中有害元素等.採用輝光放電光譜對鍍錫闆做深度-時間圖,可知鍍錫層的深度分辨率低于基闆鐵層.將方法應用于測定鍍層質量、鈍化層質量、基闆成分(碳、硅、錳、燐、硫、鎳、鉻和銅)的測定,相對標準偏差分彆不大于2.3％(n=10)、3.0％(n=10)、4.3％(n=5),分彆將實驗方法測定結果與X射線熒光光譜法(XRF)、光度法、電感耦閤等離子體原子髮射光譜法(ICPAES)進行比對,結果基本一緻.採用實驗方法對鍍錫闆鍍層中的有害元素進行瞭測定,可實現鍍錫闆多箇檢測項目的同時測定.
이용휘광방전광보법대도석판양품진행축층박리,근거양품유표지리적휘광방전적분도보,분별설정공식적분계산도석판도층후도급질량、둔화층후도급질량、기판성분、도층중유해원소등.채용휘광방전광보대도석판주심도-시간도,가지도석층적심도분변솔저우기판철층.장방법응용우측정도층질량、둔화층질량、기판성분(탄、규、맹、린、류、얼、락화동)적측정,상대표준편차분별불대우2.3％(n=10)、3.0％(n=10)、4.3％(n=5),분별장실험방법측정결과여X사선형광광보법(XRF)、광도법、전감우합등리자체원자발사광보법(ICPAES)진행비대,결과기본일치.채용실험방법대도석판도층중적유해원소진행료측정,가실현도석판다개검측항목적동시측정.
