电子器件
電子器件
전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2015年
2期
396-401
,共6页
MEMS微加速度计%失效模式%可靠性%ANSYS仿真
MEMS微加速度計%失效模式%可靠性%ANSYS倣真
MEMS미가속도계%실효모식%가고성%ANSYS방진
MEMS micro-accelerometer%failure modes%reliability%ANSYS simulate
由于微加速度计的可靠性成为其产品商业化过程中的一个重要问题,而冲击断裂是导致其性能失效的主要原因。主要研究了压阻式微加速度计在振动环境下的可靠性问题。设计了微加速度计在振动环境下的可靠性试验并通过ANSYS进行仿真。经过分析得出微加速度计在振动环境下的主要失效模式,并进行了相应的失效机理分析。通过可靠性实验进行了验证,对微加速度计在振动环境下的可靠性进行评估,并描绘了其可靠度与失效概率曲线。
由于微加速度計的可靠性成為其產品商業化過程中的一箇重要問題,而遲擊斷裂是導緻其性能失效的主要原因。主要研究瞭壓阻式微加速度計在振動環境下的可靠性問題。設計瞭微加速度計在振動環境下的可靠性試驗併通過ANSYS進行倣真。經過分析得齣微加速度計在振動環境下的主要失效模式,併進行瞭相應的失效機理分析。通過可靠性實驗進行瞭驗證,對微加速度計在振動環境下的可靠性進行評估,併描繪瞭其可靠度與失效概率麯線。
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The reliability of the micro-accelerometer is a key problem for its commercial application. Fracture is a main factor for the failure. Piezoresistive micro-accelerometer reliability in vibration environment is studied. The re-liability experiment is designed and simulated by ANSYS. The mechanism of these failure modes was proposed re-spectively,and were validated through experiments. Through the experiment and its results analysis the failure mechanism of micro-accelerometer is verified in the vibration environment,and the micro-accelerometer under the vibration environment is evaluated. Then,the reliability curve and failure probability curve are given.