电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2015年
3期
14-17
,共4页
徐大为%姚进%胡永强%刘永灿%周晓彬%陈菊
徐大為%姚進%鬍永彊%劉永燦%週曉彬%陳菊
서대위%요진%호영강%류영찬%주효빈%진국
抗辐照标准单元%SOI%验证电路
抗輻照標準單元%SOI%驗證電路
항복조표준단원%SOI%험증전로
radiation-hard standard cell library%silicon on insulator%test circuit
对抗辐照单元库的验证方法进行研究。以0.5μm抗辐照单元库为例，研究抗辐射单元库的验证方法。设计了一款验证电路，对单元库进行验证，单元库功能和性能满足设计要求，抗辐射能力达到500 krad（Si）。
對抗輻照單元庫的驗證方法進行研究。以0.5μm抗輻照單元庫為例，研究抗輻射單元庫的驗證方法。設計瞭一款驗證電路，對單元庫進行驗證，單元庫功能和性能滿足設計要求，抗輻射能力達到500 krad（Si）。
대항복조단원고적험증방법진행연구。이0.5μm항복조단원고위례，연구항복사단원고적험증방법。설계료일관험증전로，대단원고진행험증，단원고공능화성능만족설계요구，항복사능력체도500 krad（Si）。
The paper study the test and verify of radiation-hard Standard Cell Library. Take 0.5 μm radiation-hard Standard Cell Library for instance, the paper designs a test circuit to test the Cell Library. The function and performance are conifrmed. To study the radiation-hard ability of the cell library, total dose radiation experiment has been done, the radiation-hard ability has reached 500 krad(Si).
