电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2015年
5期
4-6,32
,共4页
张吉%罗喜明%王军%唐力%张一波
張吉%囉喜明%王軍%唐力%張一波
장길%라희명%왕군%당력%장일파
存储器%动态参数%测试图形
存儲器%動態參數%測試圖形
존저기%동태삼수%측시도형
SRAM%dynamic parameter%test pattern
半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读/写放大器和控制电路组成，是一种能存储大量信息的器件，它是由许多存储单元组成的。半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试，而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。SRAM（静态随机存储器）的功能测试是通过算法图形发生器产生不同的测试图形，对被测器件各个不同存储单位进行读写操作，以检查其功能。主要讲述了SRAM交流参数测试原理及其测试关键技术，介绍了SRAM交流参数测试的故障模型。通过研究SRAM交流参数测试图形向量，给出了SRAM交流参数测试图形向量的优化方法。
半導體存儲器一般由存儲體、地阯譯碼驅動器、讀/寫放大器和控製電路組成，是一種能存儲大量信息的器件，它是由許多存儲單元組成的。半導體存儲器的測試有功能測試、直流參數測試、交流參數測試，而功能測試和交流參數測試對存儲器來說是至關重要的。SRAM（靜態隨機存儲器）的功能測試是通過算法圖形髮生器產生不同的測試圖形，對被測器件各箇不同存儲單位進行讀寫操作，以檢查其功能。主要講述瞭SRAM交流參數測試原理及其測試關鍵技術，介紹瞭SRAM交流參數測試的故障模型。通過研究SRAM交流參數測試圖形嚮量，給齣瞭SRAM交流參數測試圖形嚮量的優化方法。
반도체존저기일반유존저체、지지역마구동기、독/사방대기화공제전로조성，시일충능존저대량신식적기건，타시유허다존저단원조성적。반도체존저기적측시유공능측시、직류삼수측시、교류삼수측시，이공능측시화교류삼수측시대존저기래설시지관중요적。SRAM（정태수궤존저기）적공능측시시통과산법도형발생기산생불동적측시도형，대피측기건각개불동존저단위진행독사조작，이검사기공능。주요강술료SRAM교류삼수측시원리급기측시관건기술，개소료SRAM교류삼수측시적고장모형。통과연구SRAM교류삼수측시도형향량，급출료SRAM교류삼수측시도형향량적우화방법。
The test method of SRAM includes function parameters, DC parameters and AC parameters. The key are Function parameters and AC parameters. The function test method of SRAM need apply with pattern generator. It can inspect function with read-write operation. The article presents test method and test principle of SRAM Dynamic Parameter, and introduces fault model of it. According to the research of test pattern and vector, the experiment results optimize method of test pattern and vector.
