光电工程
光電工程
광전공정
OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING
2015年
5期
1-6
,共6页
蔡怀宇%杨光%李秀明%朱猛%黄战华
蔡懷宇%楊光%李秀明%硃猛%黃戰華
채부우%양광%리수명%주맹%황전화
炸点平均高度%线扫描CCD%柱面镜%曲线拟合
炸點平均高度%線掃描CCD%柱麵鏡%麯線擬閤
작점평균고도%선소묘CCD%주면경%곡선의합
mean height of burst%line scanning CCD%cylindrical lens%curve fitting
为了准确测量远距离炸点平均高度,采用了双线扫描 CCD 成像的方法并建立了测量系统理论模型。首先采用了望远式成像光学系统对远距离炸点进行成像,采用柱面镜进行成像变换;采用Zemax软件对成像光路进行了模拟,模拟点列图结果表明了系统在物距为20 m时,能够在5 m范围内有效测量炸点光的平均高度。最后,采用曲线拟合的方法求出光斑中心位置并对测量系统进行了线性标定。经实验验证本测量系统可以在物距为20 m处测量炸点的平均高度最高约为3 m,测量精度可以达到1.95%。所设计的炸点平均高度测量系统满足了远距离、大范围的测量要求,系统运行稳定、可靠,采用双线阵CCD的测量方法有效的消除了物距不能确定的影响。
為瞭準確測量遠距離炸點平均高度,採用瞭雙線掃描 CCD 成像的方法併建立瞭測量繫統理論模型。首先採用瞭望遠式成像光學繫統對遠距離炸點進行成像,採用柱麵鏡進行成像變換;採用Zemax軟件對成像光路進行瞭模擬,模擬點列圖結果錶明瞭繫統在物距為20 m時,能夠在5 m範圍內有效測量炸點光的平均高度。最後,採用麯線擬閤的方法求齣光斑中心位置併對測量繫統進行瞭線性標定。經實驗驗證本測量繫統可以在物距為20 m處測量炸點的平均高度最高約為3 m,測量精度可以達到1.95%。所設計的炸點平均高度測量繫統滿足瞭遠距離、大範圍的測量要求,繫統運行穩定、可靠,採用雙線陣CCD的測量方法有效的消除瞭物距不能確定的影響。
위료준학측량원거리작점평균고도,채용료쌍선소묘 CCD 성상적방법병건립료측량계통이론모형。수선채용료망원식성상광학계통대원거리작점진행성상,채용주면경진행성상변환;채용Zemax연건대성상광로진행료모의,모의점렬도결과표명료계통재물거위20 m시,능구재5 m범위내유효측량작점광적평균고도。최후,채용곡선의합적방법구출광반중심위치병대측량계통진행료선성표정。경실험험증본측량계통가이재물거위20 m처측량작점적평균고도최고약위3 m,측량정도가이체도1.95%。소설계적작점평균고도측량계통만족료원거리、대범위적측량요구,계통운행은정、가고,채용쌍선진CCD적측량방법유효적소제료물거불능학정적영향。
In order to measure the mean height of long distance burst, a double line scanning CCD measurement system is established and its theoretical model is built. First, telescopic optical system is used to image the burst, and the image is transformed by a cylindrical lens. Then, Zemax software is used to simulate the optical system, whose spot diagram show that the system can effectively measure the mean height of burst within 5 meters at a long distance of 20m. Finally, the spot center is acquired by means of the curve fitting and linear calibration is carried out for uncertain parameters of the system. Experimental results indicate that the maximal height is 3 m approximately at a long distance of 20 m. The mean error is 1.95%. The presented system can reach the acquirement of long distance and wide range. Furthermore, the uncertainty of distance can be eliminated naturally by using the double line scanning CCD system.