中小企业管理与科技
中小企業管理與科技
중소기업관리여과기
MANAGEMENT & TECHNOLOGY OF SME
2015年
17期
178-178
,共1页
X射线%荧光光谱分析%地质分析
X射線%熒光光譜分析%地質分析
X사선%형광광보분석%지질분석
X射线荧光光谱分析（XRF）是一种利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（二次X射线），从而对样品进行化学成分定性分析和定量研究的方法。XRF已成为现代仪器分析技术中的一种常规且非常重要的方法，广泛应用于冶金、地质、有色、建材等各个领域，本文主要介绍X射线荧光光谱分析的原理及其在地质分析中的应用。
X射線熒光光譜分析（XRF）是一種利用原級X射線光子或其他微觀粒子激髮待測物質中的原子，使之產生熒光（二次X射線），從而對樣品進行化學成分定性分析和定量研究的方法。XRF已成為現代儀器分析技術中的一種常規且非常重要的方法，廣汎應用于冶金、地質、有色、建材等各箇領域，本文主要介紹X射線熒光光譜分析的原理及其在地質分析中的應用。
X사선형광광보분석（XRF）시일충이용원급X사선광자혹기타미관입자격발대측물질중적원자，사지산생형광（이차X사선），종이대양품진행화학성분정성분석화정량연구적방법。XRF이성위현대의기분석기술중적일충상규차비상중요적방법，엄범응용우야금、지질、유색、건재등각개영역，본문주요개소X사선형광광보분석적원리급기재지질분석중적응용。
