办公自动化(学术版)
辦公自動化(學術版)
판공자동화(학술판)
Office Automation
2015年
8期
35-36
,共2页
集成电路%故障检测%MCS51单片机
集成電路%故障檢測%MCS51單片機
집성전로%고장검측%MCS51단편궤
Integrated circuit%Trouble testing%MCS51 MCU
本文基于MCS51单片机,构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测,从而判断芯片的好坏和型号。该检测仪的使用,能减少了测试时间,提高了检测效率,降低了劳动强度。该检测仪具有良好的移植和扩展性。
本文基于MCS51單片機,構建瞭一種麵嚮TTL集成短路芯片的小型檢測儀。該檢測儀能快速、準確地對TTL繫列數字邏輯芯片的邏輯功能進行檢測,從而判斷芯片的好壞和型號。該檢測儀的使用,能減少瞭測試時間,提高瞭檢測效率,降低瞭勞動彊度。該檢測儀具有良好的移植和擴展性。
본문기우MCS51단편궤,구건료일충면향TTL집성단로심편적소형검측의。해검측의능쾌속、준학지대TTL계렬수자라집심편적라집공능진행검측,종이판단심편적호배화형호。해검측의적사용,능감소료측시시간,제고료검측효솔,강저료노동강도。해검측의구유량호적이식화확전성。
The design is based on MCS51 MCU,construct the digital ICs trouble testing system design for the TTL. This system can test logic function of TTL series digital logic chip fast and accurate,judge the quality and model of the chip. The use of the detector can reduce the test time,improve the detection efficiency,reduce the labor intensity. The detector has good transplantation and expansibility.