电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2015年
8期
17-20
,共4页
FPGA%CLB模块%BIST%全覆盖
FPGA%CLB模塊%BIST%全覆蓋
FPGA%CLB모괴%BIST%전복개
FPGA%CLB module%BIST%full coverage
针对FPGA芯片中CLB模块的测试难点，主要介绍了对FPGA芯片进行内建自测试的一种测试方法。在CLB模块中采用内建自测试分别对CLB模块的三态缓冲器、触发器、分布式RAM、CLB内部进位链与门、锁存器、算数逻辑、多路选择器MUXF6、移位寄存器进行测试，从而达到了缩短测试时间、全覆盖测试的目的。
針對FPGA芯片中CLB模塊的測試難點，主要介紹瞭對FPGA芯片進行內建自測試的一種測試方法。在CLB模塊中採用內建自測試分彆對CLB模塊的三態緩遲器、觸髮器、分佈式RAM、CLB內部進位鏈與門、鎖存器、算數邏輯、多路選擇器MUXF6、移位寄存器進行測試，從而達到瞭縮短測試時間、全覆蓋測試的目的。
침대FPGA심편중CLB모괴적측시난점，주요개소료대FPGA심편진행내건자측시적일충측시방법。재CLB모괴중채용내건자측시분별대CLB모괴적삼태완충기、촉발기、분포식RAM、CLB내부진위련여문、쇄존기、산수라집、다로선택기MUXF6、이위기존기진행측시，종이체도료축단측시시간、전복개측시적목적。
Because the CLB module of FPGA chip is difficult to test, the article mainly introduces BIST test method for the FPGA chip. In the CLB module, using the BIST separately test on the CLB module of the three state buffers, flip flops, distributed RAM, CLB internal carry chain, door latch, arithmetic logic, MUXF6, shift register, so as to shorten the testing time, reach the purpose of full coverage testing.
