核技术
覈技術
핵기술
Nuclear Techniques
2015年
8期
58-63
,共6页
密度测井%次生γ源%D-T可控中子源%康普顿散射%电子对效应
密度測井%次生γ源%D-T可控中子源%康普頓散射%電子對效應
밀도측정%차생γ원%D-T가공중자원%강보돈산사%전자대효응
Density log%Induced gamma ray source%Deuterium-Tritium controllable neutron source%Compton scattering%Pair production
为研究电子对效应对D-T可控中子源地层密度测量精度的影响,本文首先分析传统的化学源密度测井原理,其次研究中子次生γ射线发生电子对效应与康普顿散射的质量衰减系数差异,并使用蒙特卡罗模拟方法研究传统密度测井和中子次生源密度测量精度,计算其误差大小、分析误差来源和提出校正方法.结果表明,密度测井主要利用γ射线的康普顿散射,当使用中子次生的高能γ射线测量地层密度时,其精度比化学源方法低,这种误差主要是由于高能γ射线的电子对效应引起,最大可以达到传统方法的2.7倍;电子对效应对于地层岩性比较敏感,如果对衰减的γ信号进行岩性校正,则可以提高密度测量的精度.
為研究電子對效應對D-T可控中子源地層密度測量精度的影響,本文首先分析傳統的化學源密度測井原理,其次研究中子次生γ射線髮生電子對效應與康普頓散射的質量衰減繫數差異,併使用矇特卡囉模擬方法研究傳統密度測井和中子次生源密度測量精度,計算其誤差大小、分析誤差來源和提齣校正方法.結果錶明,密度測井主要利用γ射線的康普頓散射,噹使用中子次生的高能γ射線測量地層密度時,其精度比化學源方法低,這種誤差主要是由于高能γ射線的電子對效應引起,最大可以達到傳統方法的2.7倍;電子對效應對于地層巖性比較敏感,如果對衰減的γ信號進行巖性校正,則可以提高密度測量的精度.
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