物理实验
物理實驗
물리실험
Physics Experimentation
2015年
9期
12-15
,共4页
李晓梅%徐长山%许智%白雪冬
李曉梅%徐長山%許智%白雪鼕
리효매%서장산%허지%백설동
透射电子显微镜%扫描探针技术%纳米操纵%纳米测量
透射電子顯微鏡%掃描探針技術%納米操縱%納米測量
투사전자현미경%소묘탐침기술%납미조종%납미측량
transmission electron microscope%scanning probe technique%nanomanipulation%nanomeasurement
为了满足单个纳米结构的操纵和物理测量需求，设计制作了透射电子显微镜内置扫描探针装置，实现了纳米操纵、物性测量和原位结构表征的功能，从而建立起低维材料独特性质与其本征结构的一一对应关系。
為瞭滿足單箇納米結構的操縱和物理測量需求，設計製作瞭透射電子顯微鏡內置掃描探針裝置，實現瞭納米操縱、物性測量和原位結構錶徵的功能，從而建立起低維材料獨特性質與其本徵結構的一一對應關繫。
위료만족단개납미결구적조종화물리측량수구，설계제작료투사전자현미경내치소묘탐침장치，실현료납미조종、물성측량화원위결구표정적공능，종이건립기저유재료독특성질여기본정결구적일일대응관계。
In order to meet the demand of manipulation and physical measurement of an individual nanostructure ,a scanning probe microscope had been built inside a transmission electron microscope , by w hich nanomanipulation ,physical measurement and in‐situ structural characterization could be re‐alized .This instrument was powerful in a way that it could directly correlate the atomic‐scale struc‐ture with the unique properties of low‐dimensional materials .
