计算机辅助设计与图形学学报
計算機輔助設計與圖形學學報
계산궤보조설계여도형학학보
Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics
2015年
8期
1562-1569
,共8页
闫爱斌%梁华国%黄正峰%蒋翠云
閆愛斌%樑華國%黃正峰%蔣翠雲
염애빈%량화국%황정봉%장취운
负偏置温度不稳定性%扇出重汇聚%单粒子瞬态%软错误率
負偏置溫度不穩定性%扇齣重彙聚%單粒子瞬態%軟錯誤率
부편치온도불은정성%선출중회취%단입자순태%연착오솔
negative bias temperature instability%re-convergence%single event transient%soft error rate
工艺尺寸的降低导致组合电路对软错误的敏感性越发突出,由负偏置温度不稳定性(NBTI)效应引起的老化现象越发不容忽视.为了准确地评估集成电路在其生命周期不同阶段的软错误率,提出一种考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法.首先通过对节点输出逻辑进行翻转来模拟故障注入,并搜索考虑扇出重汇聚的敏化路径;再基于单粒子瞬态(SET)脉冲在产生过程中展宽的解析模型对初始SET脉冲进行展宽,使用NBTI模型计算PMOS晶体管阈值电压增量并映射到PTM模型卡;最后使用考虑老化的HSPICE工具测量SET脉冲在门单元中传播时的展宽,并将传播到锁存器的SET脉冲进行软错误率计算.在考虑10年NBTI效应的影响下,与不考虑NBTI效应的软错误率评估方法相比的实验结果表明,该方法能够平均提高15％的软错误率计算准确度.
工藝呎吋的降低導緻組閤電路對軟錯誤的敏感性越髮突齣,由負偏置溫度不穩定性(NBTI)效應引起的老化現象越髮不容忽視.為瞭準確地評估集成電路在其生命週期不同階段的軟錯誤率,提齣一種攷慮NBTI效應的組閤電路軟錯誤率計算方法.首先通過對節點輸齣邏輯進行翻轉來模擬故障註入,併搜索攷慮扇齣重彙聚的敏化路徑;再基于單粒子瞬態(SET)脈遲在產生過程中展寬的解析模型對初始SET脈遲進行展寬,使用NBTI模型計算PMOS晶體管閾值電壓增量併映射到PTM模型卡;最後使用攷慮老化的HSPICE工具測量SET脈遲在門單元中傳播時的展寬,併將傳播到鎖存器的SET脈遲進行軟錯誤率計算.在攷慮10年NBTI效應的影響下,與不攷慮NBTI效應的軟錯誤率評估方法相比的實驗結果錶明,該方法能夠平均提高15％的軟錯誤率計算準確度.
공예척촌적강저도치조합전로대연착오적민감성월발돌출,유부편치온도불은정성(NBTI)효응인기적노화현상월발불용홀시.위료준학지평고집성전로재기생명주기불동계단적연착오솔,제출일충고필NBTI효응적조합전로연착오솔계산방법.수선통과대절점수출라집진행번전래모의고장주입,병수색고필선출중회취적민화로경;재기우단입자순태(SET)맥충재산생과정중전관적해석모형대초시SET맥충진행전관,사용NBTI모형계산PMOS정체관역치전압증량병영사도PTM모형잡;최후사용고필노화적HSPICE공구측량SET맥충재문단원중전파시적전관,병장전파도쇄존기적SET맥충진행연착오솔계산.재고필10년NBTI효응적영향하,여불고필NBTI효응적연착오솔평고방법상비적실험결과표명,해방법능구평균제고15％적연착오솔계산준학도.
