计算机工程与科学
計算機工程與科學
계산궤공정여과학
Computer Engineering and Science
2015年
10期
1825-1830
,共6页
传输延迟时间%时域反射测量%集成电路测试系统%数字通道
傳輸延遲時間%時域反射測量%集成電路測試繫統%數字通道
전수연지시간%시역반사측량%집성전로측시계통%수자통도
time propagation delay%time domain reflection measurement%IC test system%digital channel
在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素.详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因,及其对待测器件交流参数测量结果的影响.提出了基于时域反射技术的集成电路测试系统数字通道传输延迟测量方法,并在泰瑞达J750EX集成电路测试系统上进行了实验验证.通过对实验数据的分析,表明该方法能有效测量数字通道传输延迟时间,提高集成电路测试系统交流参数测量准确度.
在集成電路測試領域,傳輸延遲時間tPD是一箇非常重要的參數,其不僅反映集成電路對信號的響應速度,也是集成電路測試繫統交流參數測量準確的重要影響因素.詳細分析瞭集成電路測試繫統傳輸延遲時間產生的原因,及其對待測器件交流參數測量結果的影響.提齣瞭基于時域反射技術的集成電路測試繫統數字通道傳輸延遲測量方法,併在泰瑞達J750EX集成電路測試繫統上進行瞭實驗驗證.通過對實驗數據的分析,錶明該方法能有效測量數字通道傳輸延遲時間,提高集成電路測試繫統交流參數測量準確度.
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