科技展望
科技展望
과기전망
Technology Outlook
2015年
27期
167-167
,共1页
杨建磊%徐莹%侯永康
楊建磊%徐瑩%侯永康
양건뢰%서형%후영강
ACF去除%电极划伤%改善
ACF去除%電極劃傷%改善
ACF거제%전겁화상%개선
本文通过对液晶模组的ACF去除工序所造成的产品不良进行原因排查，并通过实验验证找出优化的ACF去除方法，从而将液晶面板的ITO电极划伤尽可能进行降低。
本文通過對液晶模組的ACF去除工序所造成的產品不良進行原因排查，併通過實驗驗證找齣優化的ACF去除方法，從而將液晶麵闆的ITO電極劃傷儘可能進行降低。
본문통과대액정모조적ACF거제공서소조성적산품불량진행원인배사，병통과실험험증조출우화적ACF거제방법，종이장액정면판적ITO전겁화상진가능진행강저。
