电子学报
電子學報
전자학보
Acta Electronica Sinica
2015年
11期
2292-2297
,共6页
蔡烁%邝继顺%刘铁桥%凌纯清%尤志强
蔡爍%鄺繼順%劉鐵橋%凌純清%尤誌彊
채삭%광계순%류철교%릉순청%우지강
软错误%可靠度%概率统计模型%逻辑屏蔽%伯努利分布
軟錯誤%可靠度%概率統計模型%邏輯屏蔽%伯努利分佈
연착오%가고도%개솔통계모형%라집병폐%백노리분포
soft error%reliability%probabilistic statistical model%logic mask%Bernoulli distribution
在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中，电路的可靠性评估是非常重要的一个环节。本文提出了一种利用概率统计模型计算逻辑电路可靠度的方法，将电路中的每个逻辑门是否正常输出看作一次随机事件，则发生故障的逻辑门数为某个特定值的概率服从伯努利分布；再利用实验统计单个逻辑门出错时电路的逻辑屏蔽特性，根据此方法计算出 ISCAS’85和 ISCAS’89基准电路可靠度的一个特定范围。理论分析和实验结果表明所提方法是准确和有效的。
在深亞微米及納米級集成電路設計過程中，電路的可靠性評估是非常重要的一箇環節。本文提齣瞭一種利用概率統計模型計算邏輯電路可靠度的方法，將電路中的每箇邏輯門是否正常輸齣看作一次隨機事件，則髮生故障的邏輯門數為某箇特定值的概率服從伯努利分佈；再利用實驗統計單箇邏輯門齣錯時電路的邏輯屏蔽特性，根據此方法計算齣 ISCAS’85和 ISCAS’89基準電路可靠度的一箇特定範圍。理論分析和實驗結果錶明所提方法是準確和有效的。
재심아미미급납미급집성전로설계과정중，전로적가고성평고시비상중요적일개배절。본문제출료일충이용개솔통계모형계산라집전로가고도적방법，장전로중적매개라집문시부정상수출간작일차수궤사건，칙발생고장적라집문수위모개특정치적개솔복종백노리분포；재이용실험통계단개라집문출착시전로적라집병폐특성，근거차방법계산출 ISCAS’85화 ISCAS’89기준전로가고도적일개특정범위。이론분석화실험결과표명소제방법시준학화유효적。
Reliability estimation of logical circuit is becoming an important feature in the design process of deep submicron and nanoscale systems.In this paper,a reliability calculation method of logical circuit based on probability statistical model is pro-posed.Based on this model,the correctness of every logic gate is regarded as random event and obeying Bernoulli distribution. Meanwhile,simulation experimental results are given to analyze the logical masking properties of the circuit when only one gate set as faulty.To validate the proposed methodology we have studied the reliability range of ISCAS’85 and ISCAS’89 benchmark cir-cuits.Theoretical analysis and experimental results show our method is accurate and efficient.
