计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2011年
6期
65-67
,共3页
现场可编程门阵列(FPGA)%多逻辑单元(CLB)%测试%自动测试系统
現場可編程門陣列(FPGA)%多邏輯單元(CLB)%測試%自動測試繫統
현장가편정문진렬(FPGA)%다라집단원(CLB)%측시%자동측시계통
随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法.
隨著FPGA的規模和複雜性的增加,測試顯得尤為重要.介紹瞭SRAM型FPGA的結構概況及FPGA的測試方法,以Xilinx公司的spartan3繫列芯片為例,利用檢測可編程邏輯資源的多邏輯單元(CLB)混閤故障的測試方法,闡述瞭如何在自動測試繫統(ATE)上實現FPGA的在線配置以及功能和參數測試,為FPGA麵嚮應用的測試提供瞭一種可行的方法.
수착FPGA적규모화복잡성적증가,측시현득우위중요.개소료SRAM형FPGA적결구개황급FPGA적측시방법,이Xilinx공사적spartan3계렬심편위례,이용검측가편정라집자원적다라집단원(CLB)혼합고장적측시방법,천술료여하재자동측시계통(ATE)상실현FPGA적재선배치이급공능화삼수측시,위FPGA면향응용적측시제공료일충가행적방법.
