分析化学
分析化學
분석화학
CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY
2001年
8期
964-966
,共3页
X射线光电子能谱%成象%磁透镜
X射線光電子能譜%成象%磁透鏡
X사선광전자능보%성상%자투경
用X射线光电子能谱(XPS)分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的AgCl.观察到在使用样品磁透镜和非单色化X射线源的实验条件下不导电的AgCl的电子峰产生异常大的谱峰位移,还发现这种异常谱峰位移可以应用于XPS成象分析,以提高化学位移很小的元素化学态(如Ag0和Ag+)的XPS象的分辨能力.
用X射線光電子能譜(XPS)分析瞭與樣品託有良好電接觸的銀片及其上麵的AgCl.觀察到在使用樣品磁透鏡和非單色化X射線源的實驗條件下不導電的AgCl的電子峰產生異常大的譜峰位移,還髮現這種異常譜峰位移可以應用于XPS成象分析,以提高化學位移很小的元素化學態(如Ag0和Ag+)的XPS象的分辨能力.
용X사선광전자능보(XPS)분석료여양품탁유량호전접촉적은편급기상면적AgCl.관찰도재사용양품자투경화비단색화X사선원적실험조건하불도전적AgCl적전자봉산생이상대적보봉위이,환발현저충이상보봉위이가이응용우XPS성상분석,이제고화학위이흔소적원소화학태(여Ag0화Ag+)적XPS상적분변능력.
