计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2003年
7期
111-113,152
,共4页
边界扫描%80086EX%测试
邊界掃描%80086EX%測試
변계소묘%80086EX%측시
现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率.该文提出了嵌入式处理器80386 EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试.接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性.最后讨论了下一步的研究工作.
現代先進微處理器有非常高的集成度和複雜度,而且芯片管腳數相對較少,必鬚要有一定的自測試設計和其它的可測試性設計來簡化測試代碼,提高故障覆蓋率.該文提齣瞭嵌入式處理器80386 EX芯片內部功能的測試方案,設計瞭符閤JTAG規範的測試繫統結構,實現瞭芯片的內部功能部件的測試.接著,通過實驗證明瞭文章所提方法的可行性.最後討論瞭下一步的研究工作.
현대선진미처리기유비상고적집성도화복잡도,이차심편관각수상대교소,필수요유일정적자측시설계화기타적가측시성설계래간화측시대마,제고고장복개솔.해문제출료감입식처리기80386 EX심편내부공능적측시방안,설계료부합JTAG규범적측시계통결구,실현료심편적내부공능부건적측시.접착,통과실험증명료문장소제방법적가행성.최후토론료하일보적연구공작.
