现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2011年
18期
60-63
,共4页
高能带电粒子%单粒子翻转%修正海明码%检错纠错
高能帶電粒子%單粒子翻轉%脩正海明碼%檢錯糾錯
고능대전입자%단입자번전%수정해명마%검착규착
空间环境中存在大量的高能带电粒子,空天导弹自身的电子器件将会受到高能粒子的冲击影响,从而产生单粒子效应.研究分析了静态储存器在空间环境中最常发生的单粒子效应-单粒子翻转,采用修正海明码实现一个检错纠错模块,该模块可以检测数据存储单元的两位错误,检测定位并纠正数据存储单元的一位错误.通过仿真分析及计算,该方案可以很大程度上降低单粒子翻转效应对静态存储器的影响,具有很强的实用意义.
空間環境中存在大量的高能帶電粒子,空天導彈自身的電子器件將會受到高能粒子的遲擊影響,從而產生單粒子效應.研究分析瞭靜態儲存器在空間環境中最常髮生的單粒子效應-單粒子翻轉,採用脩正海明碼實現一箇檢錯糾錯模塊,該模塊可以檢測數據存儲單元的兩位錯誤,檢測定位併糾正數據存儲單元的一位錯誤.通過倣真分析及計算,該方案可以很大程度上降低單粒子翻轉效應對靜態存儲器的影響,具有很彊的實用意義.
공간배경중존재대량적고능대전입자,공천도탄자신적전자기건장회수도고능입자적충격영향,종이산생단입자효응.연구분석료정태저존기재공간배경중최상발생적단입자효응-단입자번전,채용수정해명마실현일개검착규착모괴,해모괴가이검측수거존저단원적량위착오,검측정위병규정수거존저단원적일위착오.통과방진분석급계산,해방안가이흔대정도상강저단입자번전효응대정태존저기적영향,구유흔강적실용의의.
