现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2001年
8期
8-10
,共3页
无损检测%最优化%电磁波
無損檢測%最優化%電磁波
무손검측%최우화%전자파
讨论了测量多层介质厚度的一种新方法,根据输入电磁波反射系数,用最优化方法反演出每层介质的厚度.
討論瞭測量多層介質厚度的一種新方法,根據輸入電磁波反射繫數,用最優化方法反縯齣每層介質的厚度.
토론료측량다층개질후도적일충신방법,근거수입전자파반사계수,용최우화방법반연출매층개질적후도.