现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2005年
16期
113-114
,共2页
相位激光测距%辅助频率%精度
相位激光測距%輔助頻率%精度
상위격광측거%보조빈솔%정도
描述了一种采用相位式激光测距提高测距精度的方法,给出了采用相位式进行激光测距的原理,指出了采用单一频率进行测距时存在的矛盾,从而提出了在单一频率的基础上添加多个辅助频率进行测距,分析了采用多个辅助频率进行相位激光测距的原理,并对采用该方法进行了精度分析.从分析的结论看,采用的辅助频率个数越多,则越能提高测距精度,同时该方法还能提高测量范围,解决了单一频率测量时的矛盾,达到了测距时高精度、大范围的工程应用要求.
描述瞭一種採用相位式激光測距提高測距精度的方法,給齣瞭採用相位式進行激光測距的原理,指齣瞭採用單一頻率進行測距時存在的矛盾,從而提齣瞭在單一頻率的基礎上添加多箇輔助頻率進行測距,分析瞭採用多箇輔助頻率進行相位激光測距的原理,併對採用該方法進行瞭精度分析.從分析的結論看,採用的輔助頻率箇數越多,則越能提高測距精度,同時該方法還能提高測量範圍,解決瞭單一頻率測量時的矛盾,達到瞭測距時高精度、大範圍的工程應用要求.
묘술료일충채용상위식격광측거제고측거정도적방법,급출료채용상위식진행격광측거적원리,지출료채용단일빈솔진행측거시존재적모순,종이제출료재단일빈솔적기출상첨가다개보조빈솔진행측거,분석료채용다개보조빈솔진행상위격광측거적원리,병대채용해방법진행료정도분석.종분석적결론간,채용적보조빈솔개수월다,칙월능제고측거정도,동시해방법환능제고측량범위,해결료단일빈솔측량시적모순,체도료측거시고정도、대범위적공정응용요구.
