现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2007年
1期
3-5
,共3页
高有堂%常本康%田思%邱亚峰%乔建良
高有堂%常本康%田思%邱亞峰%喬建良
고유당%상본강%전사%구아봉%교건량
微光枪瞄%检测%光路%分析与设计
微光鎗瞄%檢測%光路%分析與設計
미광창묘%검측%광로%분석여설계
基于多环境试验条件下的微光枪瞄检测技术一直是军备生产所关注的问题.由于振动、射击、冲击、跌落和高低温环境等载荷作用下,使微光枪瞄机械、光学和电性能结构及参数发生改变,导致微光枪瞄不能正常工作.为此设计了多环境试验条件下的微光枪瞄检测与测试系统,对测试系统的光路进行了规划,给出了由CCD组成检测系统的工作原理,分析了系统成像的详细过程.通过对平行光管和CCD变焦镜焦距的计算,并结合实际工程应用,其测量精度≤0.05 mil,测量范围≥40 mil,达到项目要求.
基于多環境試驗條件下的微光鎗瞄檢測技術一直是軍備生產所關註的問題.由于振動、射擊、遲擊、跌落和高低溫環境等載荷作用下,使微光鎗瞄機械、光學和電性能結構及參數髮生改變,導緻微光鎗瞄不能正常工作.為此設計瞭多環境試驗條件下的微光鎗瞄檢測與測試繫統,對測試繫統的光路進行瞭規劃,給齣瞭由CCD組成檢測繫統的工作原理,分析瞭繫統成像的詳細過程.通過對平行光管和CCD變焦鏡焦距的計算,併結閤實際工程應用,其測量精度≤0.05 mil,測量範圍≥40 mil,達到項目要求.
기우다배경시험조건하적미광창묘검측기술일직시군비생산소관주적문제.유우진동、사격、충격、질락화고저온배경등재하작용하,사미광창묘궤계、광학화전성능결구급삼수발생개변,도치미광창묘불능정상공작.위차설계료다배경시험조건하적미광창묘검측여측시계통,대측시계통적광로진행료규화,급출료유CCD조성검측계통적공작원리,분석료계통성상적상세과정.통과대평행광관화CCD변초경초거적계산,병결합실제공정응용,기측량정도≤0.05 mil,측량범위≥40 mil,체도항목요구.
