现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2010年
6期
22-25,37
,共5页
设计验证%错误诊断%布尔可满足性%逻辑模拟
設計驗證%錯誤診斷%佈爾可滿足性%邏輯模擬
설계험증%착오진단%포이가만족성%라집모의
在集成电路设计验证与调试过程中,逻辑错误诊断工具通常会给出一定数量的候选错误区域,然后通过特定的算法尽可能多地减少候选区域,以方便错误的准确定位.在此提出一种结合模拟与布尔可满足性(SAT)的错误诊断方法,用于提高错误诊断准确性.该方法首先使用模拟方法对候选的错误区域逐一进行判断,对于不能由模拟方法判别的候选区域,使用基于SAT的形式化方法进一步判断.针对ISCAS'85电路的实验结果表明,该方法具有较高的错误诊断准确性和效率.
在集成電路設計驗證與調試過程中,邏輯錯誤診斷工具通常會給齣一定數量的候選錯誤區域,然後通過特定的算法儘可能多地減少候選區域,以方便錯誤的準確定位.在此提齣一種結閤模擬與佈爾可滿足性(SAT)的錯誤診斷方法,用于提高錯誤診斷準確性.該方法首先使用模擬方法對候選的錯誤區域逐一進行判斷,對于不能由模擬方法判彆的候選區域,使用基于SAT的形式化方法進一步判斷.針對ISCAS'85電路的實驗結果錶明,該方法具有較高的錯誤診斷準確性和效率.
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