计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2008年
23期
88-92
,共5页
系统芯片%可测性设计%测试%测试访问
繫統芯片%可測性設計%測試%測試訪問
계통심편%가측성설계%측시%측시방문
深亚微米工艺使SoC芯片集成越来越复杂的功能,测试开发的难度也不断提高.由各种电路结构以及设计风格组成的异构系统使测试复杂度大大提高,增加了测试时间以及测试成本.描述了一款通讯基带SoC芯片的DFT实现,这款混合信号基带芯片包含模拟和数字子系统,IP核以及片上嵌入式存储器,为了满足测试需求,通过片上测试控制单元,控制SoC各种测试模式,支持传统的扫描测试以及专门针对深亚微米工艺的,操作在不同时钟频率和时钟域的基于扫描的延迟测试模式,可配置的片上存储器的BIST操作以及其它一些特定测试模式.
深亞微米工藝使SoC芯片集成越來越複雜的功能,測試開髮的難度也不斷提高.由各種電路結構以及設計風格組成的異構繫統使測試複雜度大大提高,增加瞭測試時間以及測試成本.描述瞭一款通訊基帶SoC芯片的DFT實現,這款混閤信號基帶芯片包含模擬和數字子繫統,IP覈以及片上嵌入式存儲器,為瞭滿足測試需求,通過片上測試控製單元,控製SoC各種測試模式,支持傳統的掃描測試以及專門針對深亞微米工藝的,操作在不同時鐘頻率和時鐘域的基于掃描的延遲測試模式,可配置的片上存儲器的BIST操作以及其它一些特定測試模式.
심아미미공예사SoC심편집성월래월복잡적공능,측시개발적난도야불단제고.유각충전로결구이급설계풍격조성적이구계통사측시복잡도대대제고,증가료측시시간이급측시성본.묘술료일관통신기대SoC심편적DFT실현,저관혼합신호기대심편포함모의화수자자계통,IP핵이급편상감입식존저기,위료만족측시수구,통과편상측시공제단원,공제SoC각충측시모식,지지전통적소묘측시이급전문침대심아미미공예적,조작재불동시종빈솔화시종역적기우소묘적연지측시모식,가배치적편상존저기적BIST조작이급기타일사특정측시모식.
