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JIAOYU JIAOXUE LUNTAN
2010年
11期
189
,共1页
测量%集成电路%故障%检测%外围元件
測量%集成電路%故障%檢測%外圍元件
측량%집성전로%고장%검측%외위원건
现代电子产品中集成电路的好坏直接影响设备的正常使用.虽然IC故障可通过代换试验检测,但拆卸较麻烦.本文介绍了IC故障在路、不在路的几种实用检测方法及注意事项.
現代電子產品中集成電路的好壞直接影響設備的正常使用.雖然IC故障可通過代換試驗檢測,但拆卸較痳煩.本文介紹瞭IC故障在路、不在路的幾種實用檢測方法及註意事項.
현대전자산품중집성전로적호배직접영향설비적정상사용.수연IC고장가통과대환시험검측,단탁사교마번.본문개소료IC고장재로、불재로적궤충실용검측방법급주의사항.
