计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2008年
11期
89-93,175
,共6页
片上系统%延迟测试%测试覆盖率
片上繫統%延遲測試%測試覆蓋率
편상계통%연지측시%측시복개솔
随着芯片集成度的持续提高以及制造工艺的不断进步,对测试覆盖率和产品良率的严格要求,需要研究新的测试方法和故障模型.基于扫描的快速延迟测试方法已经在深亚微米的片上系统(SoC)芯片中得到了广泛的使用.通过一款高性能复杂混合信号SoC芯片的延迟测试的成功应用,描述了从芯片对延迟测试的可复用的时钟产生逻辑的实现,到使用ATPG工具产生延迟图形,在相对较低的测试成本下,获得了很高的转换延迟和路径延迟故障覆盖率,满足了产品快速上市的要求.
隨著芯片集成度的持續提高以及製造工藝的不斷進步,對測試覆蓋率和產品良率的嚴格要求,需要研究新的測試方法和故障模型.基于掃描的快速延遲測試方法已經在深亞微米的片上繫統(SoC)芯片中得到瞭廣汎的使用.通過一款高性能複雜混閤信號SoC芯片的延遲測試的成功應用,描述瞭從芯片對延遲測試的可複用的時鐘產生邏輯的實現,到使用ATPG工具產生延遲圖形,在相對較低的測試成本下,穫得瞭很高的轉換延遲和路徑延遲故障覆蓋率,滿足瞭產品快速上市的要求.
수착심편집성도적지속제고이급제조공예적불단진보,대측시복개솔화산품량솔적엄격요구,수요연구신적측시방법화고장모형.기우소묘적쾌속연지측시방법이경재심아미미적편상계통(SoC)심편중득도료엄범적사용.통과일관고성능복잡혼합신호SoC심편적연지측시적성공응용,묘술료종심편대연지측시적가복용적시종산생라집적실현,도사용ATPG공구산생연지도형,재상대교저적측시성본하,획득료흔고적전환연지화로경연지고장복개솔,만족료산품쾌속상시적요구.
