现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2014年
6期
122-124,128
,共4页
集成电路测试%自动测试设备%测试向量%向量生成
集成電路測試%自動測試設備%測試嚮量%嚮量生成
집성전로측시%자동측시설비%측시향량%향량생성
IC test%ATE%test vector%vector generation
测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发，介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台，在仿真验证后，按照ATE向量格式，直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例，验证了此方法的可行性，并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性，对进一步研究测试向量生成，也有一定的参考意义。
測試嚮量生成是集成電路測試的一箇重要環節。在此從集成電路基本測試原理齣髮，介紹瞭一種ATE測試嚮量生成方法。通過建立器件模型和測試平檯，在倣真驗證後，按照ATE嚮量格式，直接生成ATE嚮量。以一種實際的雙嚮總線驅動電路74ALVC164245為例，驗證瞭此方法的可行性，併最終得到所需的嚮量文本。該方法具有較好的實用性，對進一步研究測試嚮量生成，也有一定的參攷意義。
측시향량생성시집성전로측시적일개중요배절。재차종집성전로기본측시원리출발，개소료일충ATE측시향량생성방법。통과건립기건모형화측시평태，재방진험증후，안조ATE향량격식，직접생성ATE향량。이일충실제적쌍향총선구동전로74ALVC164245위례，험증료차방법적가행성，병최종득도소수적향량문본。해방법구유교호적실용성，대진일보연구측시향량생성，야유일정적삼고의의。
Vector generation is an important part of IC testing. According to the basic testing principle of IC,a method of ATE test vector generation is introduced,in which the device model and test bench are established and verified with simulation means first,and then the ATE vector is directly generated according to the ATE vector format. Taking an actual bidirectional bus drive circuit 74ALVC164245 as an example,the feasibility of this method was verified,and the required vector text was got finally. This method has good practicability and certain reference significance for further study on the test vector generation.
