现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2012年
23期
189-191
,共3页
TFT-LCD%点缺陷%检测%激光修复
TFT-LCD%點缺陷%檢測%激光脩複
TFT-LCD%점결함%검측%격광수복
TFT-LCD在制程中会产生亮点、暗点、闪点、碎亮点等常见点缺陷.说明了检测点缺陷的装置、方法和过程.采用ITO隔离、激光炸射等方法对点缺陷进行修复或者淡化,其中ITO隔离法修复或淡化效果显著.修复成功率从45％提升到80％.
TFT-LCD在製程中會產生亮點、暗點、閃點、碎亮點等常見點缺陷.說明瞭檢測點缺陷的裝置、方法和過程.採用ITO隔離、激光炸射等方法對點缺陷進行脩複或者淡化,其中ITO隔離法脩複或淡化效果顯著.脩複成功率從45％提升到80％.
TFT-LCD재제정중회산생량점、암점、섬점、쇄량점등상견점결함.설명료검측점결함적장치、방법화과정.채용ITO격리、격광작사등방법대점결함진행수복혹자담화,기중ITO격리법수복혹담화효과현저.수복성공솔종45％제승도80％.
