现代应用物理
現代應用物理
현대응용물리
Modern Applie Physics
2015年
3期
181-185
,共5页
盛良%张震%张检民%徐作冬
盛良%張震%張檢民%徐作鼕
성량%장진%장검민%서작동
CMOS%激光辐照%功率密度阈值%激光干扰
CMOS%激光輻照%功率密度閾值%激光榦擾
CMOS%격광복조%공솔밀도역치%격광간우
开展了632.8 nm连续激光辐照可见光JHSM36Bf CMOS相机实验研究,获得了632.8 nm连续激光使CMOS相机单像元饱和及全屏饱和的功率密度阈值.实验证实了CMOS比CCD抗激光干扰能力更强;连续激光比脉冲激光更容易实现对CMOS相机的干扰;分析了CMOS串扰现象与CCD的不同.用饱和面积法、相关度法和均方差法3种激光干扰图像质量评价方法,定量分析了CMOS成像受激光干扰的程度.
開展瞭632.8 nm連續激光輻照可見光JHSM36Bf CMOS相機實驗研究,穫得瞭632.8 nm連續激光使CMOS相機單像元飽和及全屏飽和的功率密度閾值.實驗證實瞭CMOS比CCD抗激光榦擾能力更彊;連續激光比脈遲激光更容易實現對CMOS相機的榦擾;分析瞭CMOS串擾現象與CCD的不同.用飽和麵積法、相關度法和均方差法3種激光榦擾圖像質量評價方法,定量分析瞭CMOS成像受激光榦擾的程度.
개전료632.8 nm련속격광복조가견광JHSM36Bf CMOS상궤실험연구,획득료632.8 nm련속격광사CMOS상궤단상원포화급전병포화적공솔밀도역치.실험증실료CMOS비CCD항격광간우능력경강;련속격광비맥충격광경용역실현대CMOS상궤적간우;분석료CMOS천우현상여CCD적불동.용포화면적법、상관도법화균방차법3충격광간우도상질량평개방법,정량분석료CMOS성상수격광간우적정도.
