中国科技信息
中國科技信息
중국과기신식
CHINA SCIENCE AND TECHNOLOGY INFORMATION
2010年
16期
130-132
,共3页
自动测试设备%BGA器件%边界扫描
自動測試設備%BGA器件%邊界掃描
자동측시설비%BGA기건%변계소묘
现代雷达中使用的PCB中大量采用集成度很高的IC,尤其是BGA器件.传统的测试方法无法进行或者测试效率低下,并且测试的覆盖率也不高,PCB调试工作极为困难,迫切需要一种高效的测试手段来解决硬件测试中遇到的难题.边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,采用边界扫描技术设计的PCB自动测试设备(ATE)很好的解决了高性能PCB测试的难题.
現代雷達中使用的PCB中大量採用集成度很高的IC,尤其是BGA器件.傳統的測試方法無法進行或者測試效率低下,併且測試的覆蓋率也不高,PCB調試工作極為睏難,迫切需要一種高效的測試手段來解決硬件測試中遇到的難題.邊界掃描測試結構提供瞭一種方法,可以高效的測試PCB上麵的器件,採用邊界掃描技術設計的PCB自動測試設備(ATE)很好的解決瞭高性能PCB測試的難題.
현대뢰체중사용적PCB중대량채용집성도흔고적IC,우기시BGA기건.전통적측시방법무법진행혹자측시효솔저하,병차측시적복개솔야불고,PCB조시공작겁위곤난,박절수요일충고효적측시수단래해결경건측시중우도적난제.변계소묘측시결구제공료일충방법,가이고효적측시PCB상면적기건,채용변계소묘기술설계적PCB자동측시설비(ATE)흔호적해결료고성능PCB측시적난제.
