计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2009年
13期
81-83,89
,共4页
系统芯片%测试%微处理器%结构
繫統芯片%測試%微處理器%結構
계통심편%측시%미처리기%결구
采用内嵌微处理器作为测试控制器来测试系统芯片可以提高测试精度和速度,降低测试成本.提出在微处理器结构上做改进,设计了测试数据接口和测试数据解压单元,可以对SOC测试起支持作用.实验结果表明所增加的硬件在电路面积上可接受,对电路性能没有影响,而且对微处理器的正常功能没有任何影响.
採用內嵌微處理器作為測試控製器來測試繫統芯片可以提高測試精度和速度,降低測試成本.提齣在微處理器結構上做改進,設計瞭測試數據接口和測試數據解壓單元,可以對SOC測試起支持作用.實驗結果錶明所增加的硬件在電路麵積上可接受,對電路性能沒有影響,而且對微處理器的正常功能沒有任何影響.
채용내감미처리기작위측시공제기래측시계통심편가이제고측시정도화속도,강저측시성본.제출재미처리기결구상주개진,설계료측시수거접구화측시수거해압단원,가이대SOC측시기지지작용.실험결과표명소증가적경건재전로면적상가접수,대전로성능몰유영향,이차대미처리기적정상공능몰유임하영향.
