科技信息
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과기신식
SCIENTIFIC & TECHNICAL INFORMATION
2011年
31期
546,560
,共2页
测试系统%ARM%DDS%FPGA
測試繫統%ARM%DDS%FPGA
측시계통%ARM%DDS%FPGA
本文介绍了一种基于嵌入式的电路测试系统的设计.区别于传统的基于通用工控机的电路测试系统,本文充分利用ARM、FPGA、DDS等先进技术的体积小功耗小的特点把传统的测试系统做进一步的改进设计,使得测试系统便于携带,性能更加优良.
本文介紹瞭一種基于嵌入式的電路測試繫統的設計.區彆于傳統的基于通用工控機的電路測試繫統,本文充分利用ARM、FPGA、DDS等先進技術的體積小功耗小的特點把傳統的測試繫統做進一步的改進設計,使得測試繫統便于攜帶,性能更加優良.
본문개소료일충기우감입식적전로측시계통적설계.구별우전통적기우통용공공궤적전로측시계통,본문충분이용ARM、FPGA、DDS등선진기술적체적소공모소적특점파전통적측시계통주진일보적개진설계,사득측시계통편우휴대,성능경가우량.
