现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2011年
16期
131-132,136
,共3页
江耀曦%邵建龙%杨晓明%何春
江耀晞%邵建龍%楊曉明%何春
강요희%소건룡%양효명%하춘
IDDQ测试%测试方法%电流检测%CMOS电路
IDDQ測試%測試方法%電流檢測%CMOS電路
IDDQ측시%측시방법%전류검측%CMOS전로
针对CMOS集成电路的故障检测,提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法,并对测试电路进行了设计.所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测,通过观察测试电路输出的高低电平可知被测电路是否存在物理缺陷.测试电路的核心是电流差分放大电路,其输出一个与被测电路IDDQ电流成正比的输出.测试电路串联在被测电路与地之间,以检测异常的IDDQ电流.测试电路仅用了7个管子和1个反相器,占用面积小,用PSpice进行了晶体管级模拟,实验结果表明了测试电路的有效性.
針對CMOS集成電路的故障檢測,提齣瞭一種簡單的IDDQ靜態電流測試方法,併對測試電路進行瞭設計.所設計的IDDQ電流測試電路對CMOS被測電路進行檢測,通過觀察測試電路輸齣的高低電平可知被測電路是否存在物理缺陷.測試電路的覈心是電流差分放大電路,其輸齣一箇與被測電路IDDQ電流成正比的輸齣.測試電路串聯在被測電路與地之間,以檢測異常的IDDQ電流.測試電路僅用瞭7箇管子和1箇反相器,佔用麵積小,用PSpice進行瞭晶體管級模擬,實驗結果錶明瞭測試電路的有效性.
침대CMOS집성전로적고장검측,제출료일충간단적IDDQ정태전류측시방법,병대측시전로진행료설계.소설계적IDDQ전류측시전로대CMOS피측전로진행검측,통과관찰측시전로수출적고저전평가지피측전로시부존재물리결함.측시전로적핵심시전류차분방대전로,기수출일개여피측전로IDDQ전류성정비적수출.측시전로천련재피측전로여지지간,이검측이상적IDDQ전류.측시전로부용료7개관자화1개반상기,점용면적소,용PSpice진행료정체관급모의,실험결과표명료측시전로적유효성.
