计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2010年
36期
82-84,132
,共4页
潘清%庄泽南%张晓清%王霄军
潘清%莊澤南%張曉清%王霄軍
반청%장택남%장효청%왕소군
可靠性测试%平均无数据丢失时间(MTTDL)%磁盘读出错率
可靠性測試%平均無數據丟失時間(MTTDL)%磁盤讀齣錯率
가고성측시%평균무수거주실시간(MTTDL)%자반독출착솔
阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序.
闡述瞭衡量高耑磁盤陣列可靠性的重要指標MTTDL,通過分析兩種造成磁盤錯誤的原因,建模計算瞭各種RAID級彆的MTTDL,設計瞭磁盤讀齣錯率的測試方案,實現瞭基于分佈式的磁盤讀齣錯率測試程序.
천술료형량고단자반진렬가고성적중요지표MTTDL,통과분석량충조성자반착오적원인,건모계산료각충RAID급별적MTTDL,설계료자반독출착솔적측시방안,실현료기우분포식적자반독출착솔측시정서.
